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日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊

簡要描述:產(chǎn)品型號和價格
JIS-STB-A1 650
JIS-STB-A2 650
JIS-STB-A3 550
JIS-STB-G 550
STB-A21 550
STB-A22 550
日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊

  • 產(chǎn)品型號:STB-A1 STB-A2 JIS-STB-A3
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2022-07-13
  • 訪  問  量:475
詳情介紹

日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊

1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊


標(biāo)準(zhǔn)試塊簡稱STB試塊,通常由國際有關(guān)組織,國家和工業(yè)部的技術(shù)部門、標(biāo)準(zhǔn)化組織推薦、確定和通過使用的。它們可作為探傷儀、探頭性能的測定;探傷靈敏度和時間軸比例等的調(diào)整,以及缺陷尺寸的評價。但某一種試塊不一定都具備這些功能,而是隨應(yīng)用對象不同而有所側(cè)重,它們常常在使用目的相同的檢查之間通用,其材質(zhì)、形狀、尺寸及使用性能也均已達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)化程度。例如,國際上通用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有IIW試塊、IIW2試塊等,我國的CS–1,CS–2,CSK–IA,CSK–IB,CSK–IC(如圖2–34),日本的STB–G系列試塊,美國的ASTM和ASME的標(biāo)準(zhǔn)試塊,英國的BS–A2,BS–A4試塊,西德DIN54120中的1#試塊等等均屬此列,其中有些試塊可用于制作距離–波幅曲線或面積–波幅曲線。

標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊通常是由機(jī)構(gòu)制定的試塊,其特性與制作要求有專門的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。 標(biāo)準(zhǔn)試塊通常具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。 標(biāo)準(zhǔn)試塊用于儀器探頭系統(tǒng)性能測試校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn),

型號:JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22、JIS-STB-A1(與IW試塊相同)

JIS-STB-A2(用單探頭或雙探頭法進(jìn)行斜角探傷時,用于探傷靈敏度的調(diào)整或表示。也可用于探傷儀的綜合分辨力的測定和表示)。

JIS-STB-A3(作為A1和A2試塊現(xiàn)場用的輔助標(biāo)準(zhǔn)試塊,可用于入射點的確定、時間軸的調(diào)整、時間軸原點的修正、折射角和探傷靈敏度的確定)

JIS-STB-G(用于各種調(diào)整, min探傷距離的檢定等)。

V2~V8都加工有∮2平底孔,和V15-2-樣用于2~15mm探傷距離下的靈敏度特性試驗,反射脈沖高度在規(guī)定值t1db以內(nèi)。V15-1~V15-5.6鉆有p1.0~∮5.6mm平底孔,相鄰孔底的西積比依次為2倍。即用于探傷靈敏度的調(diào)整。

日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊







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