直流環(huán)形試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊磁粉探傷靈敏度檢驗(yàn)
簡(jiǎn)要描述:產(chǎn)品型號(hào)和價(jià)格B型 385直流環(huán)形試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊磁粉探傷靈敏度檢驗(yàn)
- 產(chǎn)品型號(hào):B型試塊
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2022-07-13
- 訪 問(wèn) 量:765
直流環(huán)形試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊磁粉探傷靈敏度檢驗(yàn)
磁粉探傷主要用于檢測(cè)鐵磁性材料及其制件的表面和近表面缺陷,是控制產(chǎn)品質(zhì)量及保證設(shè)備安全運(yùn)行的重要手段。
為確保磁粉檢測(cè)的靈敏度和檢測(cè)的可靠性,國(guó)內(nèi)外磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定進(jìn)行磁粉檢測(cè)前,需先用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行綜合性能驗(yàn)證,以檢查磁粉檢測(cè)設(shè)備的功能、磁粉性能、磁懸液、檢測(cè)方式、磁化方式、磁化規(guī)范及操作人員操作方法等綜合指標(biāo),然后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。由此可見(jiàn)標(biāo)準(zhǔn)試塊質(zhì)量與性能的重要性。
在標(biāo)準(zhǔn)GB/T 23906-2009《無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè)用環(huán)形試塊》、JB/T 6066-2004《無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè)用環(huán)形試塊》 和GB/T 15822.2-2005《無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè) 第2部分:檢測(cè)介質(zhì)》中規(guī)定了B型標(biāo)準(zhǔn)試塊、E型標(biāo)準(zhǔn)試塊和1型磁粉試塊這3種磁粉檢測(cè)用標(biāo)準(zhǔn)環(huán)形試塊是磁粉檢測(cè)常用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
環(huán)形試塊:GB/T 23906-2009和JB/T 6066-2004標(biāo)準(zhǔn)中均規(guī)定了磁粉檢測(cè)用環(huán)形試塊的技術(shù)要求。
鋼制標(biāo)準(zhǔn)環(huán)形試塊分交、直流兩種。
直流環(huán)形試塊稱為B型標(biāo)準(zhǔn)試塊,由工具鋼制成,其形狀和規(guī)格如圖1所示。試塊上加工有直徑為1.78mm的12個(gè)通孔,第一個(gè)孔中心距離試塊表面為1.78mm;從第二個(gè)孔起,每個(gè)孔距離試塊表面的距離依次增加1.78mm,相鄰兩個(gè)孔間距離為19mm。
交流環(huán)形試塊稱為E型標(biāo)準(zhǔn)試塊,由含碳量不大于0.15%的軟鋼制成, 其形狀和規(guī)格如圖2所示。鋼環(huán)上加工有直徑為1mm的3個(gè)通孔,孔中心距離試塊表面分別為1.0,1.5,2.0mm。
在使用標(biāo)準(zhǔn)鋼制環(huán)形試塊時(shí),需使用直(交)流電磁化試場(chǎng),被周向磁化的環(huán)形試塊上的圓孔缺陷產(chǎn)生漏磁場(chǎng),能在環(huán)表面對(duì)應(yīng)的通孔上方形成清晰的磁痕。
B型標(biāo)準(zhǔn)試塊外觀如圖3所示,將直流B型標(biāo)準(zhǔn)試塊穿在長(zhǎng)度為60mm直徑為25mm的銅棒上,并夾于校準(zhǔn)合格的磁粉探傷機(jī)的兩極間,通以直流電進(jìn)行連續(xù)磁化。
一、B型直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊,直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國(guó)稱BETZ環(huán)同效,用AISIPREFIX = ST1 01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成,洛氏硬度HRC=90~95,環(huán)上鉆有直徑0.07英寸的通孔12個(gè),中心孔徑為31.8mm。適用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),用于考察試驗(yàn)條件和操作方法是否恰當(dāng)。但不能確定磁化規(guī)范、磁場(chǎng)方向和有效磁化范圍。
二、磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試塊使用說(shuō)明
概述:本試塊是依據(jù)BS4069及JB/T6066“磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試塊"和JB/T6063“磁粉探傷用磁粉技術(shù)"提出的技術(shù)參數(shù)精心設(shè)計(jì)制造的更新?lián)Q代產(chǎn)品。是用來(lái)檢驗(yàn)探傷用熒光或非熒光磁粉的綜合靈敏度,以確保零部件磁化規(guī)范得到實(shí)施,是磁粉探傷時(shí),檢驗(yàn)儀器‘磁粉或磁懸液工具。本試塊符合車輛局95-114文件附件內(nèi)容。供機(jī)車輛另部件磁粉探傷用。
三、應(yīng)用范圍:(本試塊為B型。E型兩種)
1.B型試塊適用于直流電磁粉探傷時(shí),干法磁粉、熒光或非熒光磁懸液的靈敏度顯示。
2.E型試塊適應(yīng)用于交流電探傷時(shí),干法磁粉、熒光或非熒光磁懸液的靈敏度顯示。
四、使用操作:1、直流電探傷時(shí),將B型試塊穿入一根直徑為29±1mm,長(zhǎng)度為400±2mm的銅棒上,試環(huán)置于銅棒中部,讓試環(huán)上的第5個(gè)孔置于 12點(diǎn)鐘位置,夾持在探傷機(jī)上,通以2500A(有效值)主波整流 電,對(duì)試環(huán)進(jìn)行周向磁化,并施加攪拌均勻的熒光或非熒光磁懸液(配比按工藝要求),檢查試環(huán)的外表面上磁痕情況。A、熒光磁粉顯示時(shí),紫外線輻射照度不應(yīng)低于800-1000UW/cm
2.非熒光磁粉顯示時(shí),檢查處白光強(qiáng)度不應(yīng)低于1000XL。B、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn):無(wú)論是熒光或非熒光磁懸液均至少能看出5 個(gè)孔的磁痕顯示。2、交流電探傷時(shí),將E型試環(huán)穿入一根直徑為20±1mm長(zhǎng)度為150±2mm的銅棒,夾持在探傷裝置上,通以750A(有效值)的電流,并施加攪拌均勻的熒光或非熒光磁懸殊液(配比按工藝要求),檢查試環(huán)外表面的磁痕情況。A、熒光磁粉或非熒光磁粉的光照度1、中的 技術(shù)要求。B、無(wú)論是熒光或非熒光磁懸液,至少能看出2個(gè)孔的磁痕顯
示。
五、使用方法:
用銅棒作中心導(dǎo)體,用穿棒法磁化,通以直流電,用連續(xù)法檢驗(yàn),觀察試塊外緣清晰顯示的孔數(shù)。該試塊僅適用于直流電或整流電磁化
六、注意事項(xiàng):
1、試塊使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試塊表面的油漬擦去,再用直徑小于31mm的銅棒穿入中心孔,在銅棒的兩端接通直流電或整流電進(jìn)行磁化。
2、試塊用后請(qǐng)涂防銹油。
七、制作過(guò)程簡(jiǎn)述如下:
(1)選用直徑為55mm的棒材,將棒材車加工至Φ(51±0.05)mm,厚度磨削加工至(10±0.05)mm,并鉆加工直徑(10.5±0.05)mm的中心孔,形成試塊材料,并進(jìn)行表面預(yù)處理。
(2)對(duì)表面處理過(guò)的試塊材料進(jìn)行淬火處理。出爐時(shí)即采用水淬火處理,直至溫度降至室溫,淬火后的硬度要求為63~70HRC。
(3)對(duì)淬火后的試塊材料進(jìn)行兩端平面磨削處理。采用平面磨床進(jìn)行加工,磨削速度為3200r/min,磨削進(jìn)給量為0.08mm,磨削時(shí)間約30s,磨削過(guò)程中的冷卻液為冰水,厚度磨削至(9.7±0.05)mm。
(4)將制得的試塊材料圓柱面磨削加工至Φ(50±0.05)mm,同時(shí),對(duì)試塊表面進(jìn)行鉗修處理,至試塊材料表面粗糙度為3.2μm。
(5)進(jìn)行黑化處理。將試塊材料除油、除銹、干燥后,再將鋼鐵常溫發(fā)黑劑按原液兌1倍水的比例配好后,均勻涂于試塊材料表面,連續(xù)涂3~6遍,即制得參考試塊。
(6)試塊的質(zhì)量檢驗(yàn)。采用中心導(dǎo)體法,使用1000A峰值電流進(jìn)行磁化,試塊經(jīng)磁化后在其內(nèi)部形成環(huán)形磁場(chǎng),對(duì)外不顯示磁性,無(wú)法用場(chǎng)強(qiáng)計(jì)測(cè)量剩磁場(chǎng)強(qiáng)度。但在自然裂紋處會(huì)形成漏磁場(chǎng)。施加磁粉后須能顯示淬火裂紋和細(xì)小的磨削裂紋。施加磁懸液后試塊兩表面應(yīng)均勻分布淬火裂紋和磨削裂紋。淬火(應(yīng)力)裂紋形態(tài)比較粗大;磨削裂紋形態(tài)較為細(xì)小,多呈龜裂狀態(tài)。
直流環(huán)形試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊磁粉探傷靈敏度檢驗(yàn)